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probe card

产品简介

考试探针卡在CP考试中使用于接入考试机和Die上的Pad,常是 Loadboard的物理防御接口类型方式,在某一实际情况下ProbeCard依据排插某些某些接口类型方式电路板附带 到Loadboard上。技术应用:晶元割切前,经过pc能考试晶圆品质质量,制止不合理厂品引起打包封装资金。

应用流程

关键能力